使用 PASCAL Ci4 和隔膜密封进行高精度压力测量：ATC 技术可将温度误差降低高达 90% - 压力变送器 PASCAL Ci4 在隔膜密封后面带有附加温度传感器。

　　新开发的 ATC 技术在隔膜密封系统的温度稳定性方面实现了巨大的飞跃。因此，可以与 LABOM 压力测量设备的高精度一起进行高精度压力测量。

　　隔膜密封件经常用于过程工业中的压力测量，以保护测量设备免受腐蚀性介质的影响，或者(例如在制药工业中)创建无间隙过程连接。该过程通过薄金属膜片与测量装置分离。隔膜后面的压力传输流体将过程压力传输到实际压力传感器。几乎所有使用隔膜密封系统的压力测量任务都可以找到解决方案。

　　一个缺点是隔膜密封不是完全无反应的。压力传输流体由于过程热量而膨胀并使分离膜片偏转。这根据上述隔膜的刚度产生恢复力，该恢复力作为压力测量中的误差被接收。

　　LABOM 开发并实施了进一步的补偿流程，以创建解决此问题的方法。压力传输流体的温度通过附加温度传感器(ATC 技术(ATC = 主动温度补偿))记录。该传感器的位置尽可能靠近分离膜片。因此，传感器以良好的精度记录该隔膜后面的液体温度。

　　由于这种额外的温度测量，可以立即在数学上纠正由此产生的错误。研究表明，使用处于静止状态的小隔膜密封件，误差可减少 80-90%。因此可以直接受益于压力测量装置的高精度进行高精度压力测量。